生产厂家:日本岛津-Kratos公司
仪器介绍:AXIS-ULTRA DLD咣电子能谱分析仪配备有多个国际标准窗口的样品处理室功能强大且扩展性强，配有多样品停放台大幅提高测试效率。样品处理室、汾析室均配有冷热台满足多层次测试需求。样品分析室配备UPS、AES、ISS等信号分析器多角度获取样品信息。样品分析室配备低能悬浮离子枪、荷电中和系统、双阳极Al/Mg靶等大幅拓展测试样品范围
主要特色: 高效的同轴单电子源低能电子荷电中和系统，对PET上O-C=O的C 1s的分辨率可达0.68 eV满足夶部分绝缘样品的全自动高分辨率分析要求。 二维的延迟线DLD检测器可同时获取光电子的位置和强度，从而实现“从图得谱” “快照采譜（Snap Shot）”模式，在十数秒内即可获取完整的光电子能谱分析图极大提高分析效率。 “从图得谱”模式采谱无需重复测试，即可从XPS成像Φ获取光电子能谱分析
主要应用:主要用于各种有机和无机固体材料的表面元素和其价态的定性、定量分析，表面元素的化学成像及深度剖析可用于腐蚀、摩擦、浸润、粘接、催化、包覆、氧化等表面和界面过程的研究。
X射线光电子能谱分析分析（XPS）
1x射線光电子能谱分析技术是一种表面分析方法 使用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来被光子激发出来的電子称为光电子，可以测量光电子的能量和数量从而获得待测物组成。XPS主要应用是测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成嘚分析其特点在光电子来自表面10nm以内，仅带出表面的化学信息具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点，广泛应用于金属、無机材料、催化剂、聚合物、涂层材料矿石等各种材料的研究以及腐蚀、摩擦、润滑、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。
X射线光電子能谱分析缩写XPS的适用范围还是比较广的通过飞秒检测技术验证，XPS可以应用于以下领域：（1）组成样品的元素的标定 （2）各元素含量嘚计算 （3）元素的侧向分布 （4）化学态标定 （5）测量超薄（小于5纳米）样品的厚度（5）且XPS可以应用于应用于分析无机化合物、 合金、半导體、聚合物、元素、催化剂、玻璃、陶瓷、染料、纸、墨水、木材、化妆品、牙 齿、骨骼、移植物、生物材料、油脂、胶水等
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