美国军用标准“微电子器件试验方法和程序”于1983年经修改后出版了C版,即STD-883C883C出版后,于1984年1月31日,美国军方发表第一号通告,宣布对方法2009.4(外部目检)作了修改(新号为2009.5)。1984年8月15日,美军方发表第二号通告,又对883C作了大量修改,主要内容分三部分:
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